内校分析天平的自动校准机制原理是什么？

内校分析天平的自动校准机制原理是通过内置校准砝码与电磁力平衡传感器协同工作，在环境变化或时间阈值到达时自动执行重量标定，实现无需人工干预的实时精度保障。

 背景

内校（Internal Calibration）是电子分析天平实现高可靠性称量的关键技术，区别于依赖外部砝码的手动校准方式。其设计初衷是应对制药、质检等场景对数据溯源性、操作规范性及人为误差控制的严苛要求1。核心在于将“标准"（砝码）与“测量装置"（传感器）集成于同一物理系统中，形成闭环自检能力11。

工作机制分步解析

核心组件协同：内置一个或多个高稳定性金属砝码（通常为不锈钢或无磁合金），由微型电机驱动升降；同时搭载电磁力补偿式称重传感器——当砝码加载至传感器时，系统实时比对“已知质量"与“当前输出电信号"，从而计算出灵敏度偏差211。

自动触发条件（多策略并行）：

开机自启：每次通电预热稳定后立即执行1；

温度漂移响应：环境温度变化 ≥ ±1.5℃～±2℃ 时触发（如奥豪斯AutoCal、科恩ABJ-NM等型号）133；

时间周期校准：连续运行达设定间隔（常见为4～8小时）自动启动36；

状态感知校准：部分型号支持“非工作时段静默校准"，避免干扰实验流程