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内校分析天平如何通过内置砝码实现自动校准
点击次数:131 更新时间:2026-01-29

内校分析天平如何通过内置砝码实现自动校准


原理:电磁力平衡+内置砝码动态修正

内校分析天平并非“无需砝码",而是将高精度标准砝码集成于天平内部,通常由无磁不锈钢制成,通过电机驱动升降装置加载至传感器上 。校准时,天平利用电磁力平衡原理:当内置砝码加载后,传感器检测到理论应有信号与实际输出信号的偏差,自动计算并更新校准系数(如增益、零点偏移),从而修正后续所有称量结果 。整个过程不依赖外部干预,也避免了人为操作误差。

⚙️触发方式:温度漂移或定时双模式保障稳定性

自动校准不是随机启动,而是由两类智能逻辑触发:

PSC(Power-Saving Calibration)模式:当环境温度变化≥1.5℃(如奥豪斯Exporer系列)或≥2℃(如德国科恩ABJ-NM)时,天平自动感知并启动校准 43;

Clock-CAL(定时校准)模式:按预设时间间隔(如每4小时、每11小时)自动运行,确保长期称量一致性,尤其适用于昼夜温差大的实验室 。

部分型号(如岛津UW系列)支持两种模式共存,兼顾环境适应性与时间可靠性 。

 操作流程:一键启动,全程无人值守

用户侧操作极简:

仅需按下“CAL"键(或开机自动触发);

天平内部电机自动升降砝码,显示屏显示“CAL"或“AUTO-CAL"闪烁提示;

校准中若进行称量,系统会等待5分钟内无操作后自动完成,不中断工作流 ;

结束后显示“CAL done"或直接回零,全程无需开罩、不碰砝码、不读数

补充说明:内校天平的准确性不优于外校天平——新出厂时两者砝码等级相同(如E2/F1),精度本质取决于传感器质量与砝码本身 912;但内校通过减少人为干扰和环境损耗,在长期使用中更易维持标称精度 

结论/建议

内校分析天平是通过内置高精度砝码+电机驱动+电磁力反馈闭环,实现环境自适应、定时触发、无人值守的全自动校准。它特别适合对操作效率、数据可追溯性及长期稳定性要求高的实验室场景(如质检中心、制药QC)。若你当前使用的天平支持内校,建议启用PSC+Clock-CAL双模式,并每年委托第三方用E2级砝码对外置接口做一次基准验证。


 
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